微电子工业全球标准
标准及文件检索
标题 | 文档# | 日期 |
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场效应晶体管的首选引线配置:状态:重申1981年9月,1999年4月 |
JEP69-B | 1973年11月 |
本出版物指出了在各种封装设计中fet的首选引脚。 委员会(s):JC-25 |
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与红外设备一起使用的字母符号-并入jesd77-a。状态:取消 |
JEP75 | 1984年8月 |
委员会(s):JC-10 |
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光导电池寿命试验方法: |
JEP79 | 1969年9月 |
本出版物主要针对可见光和近红外区域敏感的光导电池。 |
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晶体管引线温度测量的推荐实施规程: |
JEP84A | 2004年6月 |
本出版物涵盖了在各种负载条件下测量晶体管引线温度的推荐方法。所描述的技术对于大多数应用来说是足够准确的。 委员会(s):JC-25 |
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信号二极管热阻测试方法- 1986年7月被EIA-531取代。参见JESD531, 2002年4月。状态:取消 |
JEP90 | 1983年9月 |
委员会(s):jc - 22.4 |