微电子工业全球标准
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本文档中描述的方法适用于具有已知失效机制的固态组件的所有特定应用可靠性测试,其中测试持续时间和条件根据应用变量而变化。本文档不包括基于特性的可靠性测试,或者本质上是进行/不进行类型测试,例如ESD、闭锁或电气过压。同样,它并不试图涵盖每一个故障机制或测试环境,但它确实提供了一种可以扩展到其他故障机制和测试环境的方法。
委员会(s):jc - 14.3
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