微电子工业全球标准
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本文档中描述的方法适用于所有特定于应用程序的可靠性测试,测试持续时间和条件根据应用程序变量而变化。本文档不包括基于特性的可靠性测试或基本的启动/不启动类型测试,例如ESD、闭锁或电气过度应力。此外,它并没有试图涵盖所有的故障机制或测试环境,但是提供了一种可以扩展到其他故障机制和测试环境的方法。
委员会(s):jc - 14.3
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