微电子工业全球标准
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该测试用于测量固体易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如触发器)在已知通量的中子或质子束照射时的误差率,从而确定地球宇宙射线软误差率(SER)灵敏度。该加速试验的结果可用于估计给定地球宇宙射线辐射环境下的地球宇宙射线诱导SER。该试验不能用于预测α粒子诱导的SER。
委员会(s):jc - 14.1
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