微电子工业全球标准
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该测试用于确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如,触发器)的地面宇宙射线软误差率(SER)灵敏度,通过测量设备在已知通量的中子或质子束中照射时的误差率。该加速试验的结果可用于在给定的地球宇宙射线辐射环境下估计地球宇宙射线诱导的SER。该测试不能用于投射α粒子诱导SER。
委员会(s):jc - 14.1
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