微电子工业全球标准
本文件旨在与JESD51-50系列标准结合使用,特别是与JESD51-51(带有暴露冷却表面的发光二极管实际热阻和阻抗测量电气测试方法的实施)文件一起使用。本文件着重于led总辐射通量的测量与led热特性的测量相结合:提供了CIE 127-2007文件建议的实施指南。
委员会(s):JC-15
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标准及文件协助:电子邮件朱莉·卡尔森
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