JESD22-A103E.01
发布日期:2021年7月
该测试适用于所有固态器件的评估、筛选、监测和/或鉴定。高温存储测试通常用于确定时间和温度在存储条件下对热激活故障机制和固态电子设备(包括非易失性存储设备(数据保留故障机制)的时间到故障分布的影响。采用Arrhenius加速方程对热激活失效机制进行建模。在测试过程中，在没有施加电气条件的情况下使用加速应力温度。这个测试可能是破坏性的，取决于时间，温度和包装(如果有的话)。
委员会(s):jc - 14.1
可供购买:55.00美元
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