JEDEC发布了测量质子辐射对电子设备影响的新测试标准

2013年10月16日，美国弗吉尼亚州阿灵顿市- - - - - -电平固态技术协会是微电子工业标准开发的全球领导者，今天宣布了JESD234电子器件中质子辐射单事件效应测量测试标准的出版。针对目前对用于外层空间的电子设备的质子诱发扰动试验缺乏普遍的工业标准而开发的;新标准有助于质子测试的几个方面，包括旅行前计划，测试期间的决策，以及暴露后的计划和分析。JESD234可从JEDEC网站免费下载://www.ljosalfur.com/standards-documents/results/jesd234．

新标准还预先警告了该标准所涵盖的可接受质子测试的“界限”。例如，本标准中讨论的被排除的项目是低能质子试验(< 5MeV)、总剂量过高的质子试验和闭锁试验与能量无关的假设。JESD234向用户保证:

1. 将可接受的间接电离镦锻试验限定在40 - 500兆电子伏的能量下进行
2. 必须考虑到设备覆盖层和包盖
3. 关于破坏性事件与非破坏性事件的界定问题
4. 角测试不同于重离子测试和角测试
5. 提供质子诱导的显性saw的列表

JC-13.4辐射硬度:保证和表征小组委员会主席Reed Lawrence说:“辐射效应测试和规划社区多年来一直要求制定质子SEE测试标准。他补充说:“JEDEC相信这个新标准将满足社区对能够模拟外太空恶劣环境的测试的需求。”

关于电平

JEDEC是微电子工业标准的领先开发商。来自近300家公司的4000多名参与者在50个JEDEC委员会中共同工作，以满足行业、制造商和消费者等各个领域的需求。yabo2018他们所产生的出版物和标准为全世界所接受。所有JEDEC标准都可以在网上免费获得。更多信息，请访问www.ljosalfur.com．

联系人:

艾米丽德斯贾丁斯
703-907-7560
emilyd@jedec.org

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