微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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IC闭锁测试 |
JESD78F.01 | 2022年12月 |
本标准涵盖集成电路的i型测试和v型电源过电压闭锁测试。本标准的目的是建立一种确定IC闭锁特性的方法,并定义闭锁检测标准。闭锁特性在确定产品可靠性和最小化由于闭锁导致的无故障(NTF)和电气过度应力(EOS)故障方面极其重要。此测试方法适用于NMOS, CMOS,双极,以及这些技术的所有变体和组合。该标准已被美国国防后勤局(DLA)作为5962-1880项目采用。 |
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为固态技术的术语字典,第7版 |
JESD88F | 2018年2月 |
这个参考技术作家和教育工作者,制造商,买家和用户的离散固态设备现在是可用的。它应帮助JEDEC的技术委员会避免多重定义和减少冗余定义yabo2018的扩散。长期目标是包括来自所有JEDEC出版物和标准的定义。大约2000个条目中的每一个都引用了其源出版物,并包括一个附件,列出了源出版物的名称及其发布日期。所有的条目都被审查了标点符号、语法、清晰度和准确性,如果认为有必要,就重新措辞。本词典的目的是促进在整个固态工业中术语、定义、缩写和符号的统一使用 委员会(s):JC-10 |
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理解电超应力状态:重申2022年5月 |
JEP174 | 2016年9月 |
本白皮书的目的是向电子行业介绍EOS的新视角。由于表现出EOS损坏的故障在行业中很常见,这些严重的过度压力事件是许多产品损坏的一个因素,本白皮书的目的是阐明EOS的真正含义,以及一旦正确理解它,如何减轻它。 委员会(s):jc - 14.3 |