微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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组件引线、端子、凸耳、端子和导线的可焊性测试:删除01/21/04发行号:B |
j - std - 002 | 2003年2月 |
应IPC要求,J-STD-002B已从免费下载区删除。取而代之的是JEDEC的测试方法,JESD22-B102,可焊性,其中包括无铅,直到被J-STD-002D取代。J-STD-002的任何修订版本将不再在JEDEC网站上免费提供给业界。但是,JEDEC拟订委员会成员可在成员区获得该文件。如果您不是JEDEC会员,您可能希望访问IPC网站或以下列出的经销商之一://www.ljosalfur.com/standards-document |