微电子工业全球标准
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本标准详细描述了从完整寿命数据(实验中的所有样本都失败了)或单右截尾寿命数据(实验失败了)或从快速压力测试中收集的单右截尾寿命数据中估计双参数对数正态分布值的技术;然而,并不是所有类型的故障数据都可以用这些技术进行分析。
委员会(s):jc - 14.2
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