微电子工业全球标准
显示1 - 1的1个文档。
介绍了用于测量双极、IGBT和MOSFET功率半导体关断损耗的典型示波器波形的方法和基本测试电路。该方法可作为评估功率半导体关断开关损耗能力的标准,并定义电子工业中应参考的标准术语。
委员会(s):JC-25
免费下载。登记或登录必需的。