微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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晶闸管推荐标准: |
EIA397 | 1972年6月 |
本标准的一个部分给出了晶闸管原理的全面解释,定义了这些设备的不同类别,它们的物理结构,并详细介绍了它们应用于电子和电源电路所需的众多测试方法和评级。另一部分给出了普遍接受的字母符号列表。相当大的努力致力于使用与晶闸管相关的JEDEC类型注册系统。这将允许设备制造商在制定最大额定值和表现性能数据时采用统一的程序。 委员会(s):jc - 22.1 |
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半导体逻辑门控微电路噪声裕度测量的标准试验程序状态:取消2008年10月 |
JESD390A | 1981年2月 |
2003年9月重申 |
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晶闸管和整流二极管分立半导体封装的外部间隙和爬电距离的定义:状态:重申1991年1月,1999年4月,2002年4月,2011年11月 |
JESD4 | 1983年11月 |
该标准定义了在特定电压下设备的端子和外部封装之间的参考距离。 委员会(s):jc - 22.2 |