微电子工业全球标准
显示1 - 1的1个文档。
本出版物适用于要求高可靠性的功率GaAs FET应用。热阻的准确测量对于向用户提供fet工作温度的知识非常重要,从而可以更准确地估计寿命。FET失效机制和故障率通常与温度呈指数关系(这就是为什么温度加速测试是成功的)。由于故障率与温度呈指数关系,因此热阻应参考FET中最热的部分。
委员会(s):jc - 14.7
免费下载。登记或登录必需的。