微电子工业全球标准
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该测试用于确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如触发器)的软错误率(SER),以纠正在地面环境中使用的只需重新读取或重写即可的错误。它模拟设备的运行条件,并用于鉴定、表征或可靠性监测。本试验在环境条件下进行,没有人为引入辐射源。
委员会(s):JC-14,jc - 14.1
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