微电子工业全球标准
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低温存储测试通常用于确定存储条件下时间和温度对固态电子器件热激活失效机制的影响,包括非易失性存储器件(数据保留失效机制)。在测试过程中,在没有施加电应力的情况下使用降低温度(测试条件)。根据时间、温度和包装(如果有的话),该测试可能具有破坏性。
委员会(s):jc - 14.1
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