微电子工业全球标准
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本测试方法建立了测试和分类微电路的标准程序,根据其暴露于定义的静电人体模型(HBM)放电(ESD)时对损坏或降解的敏感性进行测试和分类。目标是提供可靠、可重复的HBM ESD测试结果,以便进行准确的分类。
委员会(s):jc - 14.1