微电子工业全球标准
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这种噪声测量方法适用于噪声具有高斯功率分布的晶体管,噪声具有平坦(白)功率分布的晶体管,以及噪声具有l/f(功率与频率成反比)功率分布的晶体管。以前称为RS-353和/或EIA-353
委员会(s):JC-25
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