微电子工业全球标准
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该测试方法定义了地面模拟和单事件效应(SEE)的要求和程序,以及该方法在测试集成电路中的实施。当使用回旋加速器或范德格拉夫加速器时,这个标准是有效的。被测微电路必须清除。这些设施中使用的离子的原子序数为z> 2。它不适用于使用质子、中子或其他较轻粒子的SEE测试。本标准旨在消除方法使用者和测试设施使用者之间的任何误解,最大限度地减少延迟,并促进测试和测试数据的标准化。
委员会(s):jc - 13.4
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