微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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alpha源加速软误差率的测试方法 |
JESD89-2B | 2021年7月 |
该测试方法是作为标准化程序提供的,用于通过测量器件被表征的固体阿尔法光源照射时的误差率来确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如触发器)的阿尔法粒子软误差率(SER)灵敏度。 |
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光束加速软误差率试验方法 |
JESD89-3B | 2021年9月 |
该测试用于确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如,触发器)的地面宇宙射线软误差率(SER)灵敏度,通过测量设备在已知通量的中子或质子束中照射时的误差率。该加速试验的结果可用于在给定的地球宇宙射线辐射环境下估计地球宇宙射线诱导的SER。该测试不能用于投射α粒子诱导SER。 委员会(s):jc - 14.1 |
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实时软误差率的测试方法 |
JESD89-1B | 2021年7月 |
该测试用于确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如触发器)的软错误率(SER),以纠正在地面环境中使用的只需重新读取或重写即可的错误。它模拟设备的运行条件,并用于鉴定、表征或可靠性监测。本试验在环境条件下进行,没有人为引入辐射源。 |