微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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静电放电(esd)敏感性试验人体模型(hbm)状态:取代ANSI/ESDA/JEDEC JS-001, 2010年4月。 |
JESD22-A114F | 2008年12月 |
该测试方法建立了一个标准程序,用于测试和分类微电路,根据其暴露于定义的静电人体模型(HBM)放电(ESD)的损坏或退化的易感性。目的是提供可靠的、可重复的HBM ESD测试结果,以便进行准确的分类。 委员会(s):jc - 14.1 |
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静电放电(esd)灵敏度试验机型号(mm)本文件已于2016年9月失效 |
JESD22-A115C | 2010年11月 |
JESD22-A115是一个参考文档;这不是JESD47(集成电路压力测试驱动认证)的要求。JESD22-A115中描述的机器型号(MM)不应作为集成电路ESD认证的要求。只有人体模型(human-body model, HBM)和电荷器件模型(charge -device model, CDM)是JESD47中规定的必要的ESD认证测试方法。 指JEP172:停止使用设备ESD认证的机器模型获取更多信息。 委员会(s):jc - 14.1 |