微电子工业全球标准
标准及文件检索
显示2个文档中的1 - 2。
标题 | 文档# | 日期 |
---|---|---|
微电子筛选与测试优化要求: |
JEP121B | 2020年12月 |
本文件的目的是为100%筛选/应力操作和样品检验试验活动的优化提供依据。本文件旨在协助制造商优化测试流程,同时保持和/或提高以有效方式提供高质量和可靠产品的保证。这将允许优化测试,而不是增加价值,因此,减少周期时间和成本。 |
||
高温贮存寿命 |
JESD22-A103E.01 | 2021年7月 |
该测试适用于所有固态器件的评估、筛选、监测和/或鉴定。高温存储测试通常用于确定时间和温度在存储条件下对热激活故障机制和固态电子设备(包括非易失性存储设备(数据保留故障机制)的时间到故障分布的影响。采用Arrhenius加速方程对热激活失效机制进行建模。在测试过程中,在没有施加电气条件的情况下使用加速应力温度。这个测试可能是破坏性的,取决于时间,温度和包装(如果有的话)。 委员会(s):jc - 14.1 可供购买:55.00美元 添加到购物车 JEDEC付费会员可以登录免费访问。 |