微电子工业全球标准
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该测试适用于所有固态器件的评估、筛选、监测和/或鉴定。高温存储测试通常用于确定存储条件下时间和温度对固态电子设备(包括非易失性存储设备(数据保留失效机制))的热激活失效机制和失效时间分布的影响。热激活失效机制采用加速度的Arrhenius方程进行建模。在测试过程中,在没有电气条件的情况下使用加速应力温度。这个测试可能是破坏性的,取决于时间,温度和包装(如果有的话)。
委员会(s):jc - 14.1
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