微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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hbm / mm鉴定的推荐esd目标水平 |
JEP155B | 2018年7月 |
本文档旨在为半导体公司及其客户的质量组织提供信息,以评估并制定安全ESD水平要求。通过本文档,我们将说明为什么对组件级ESD的ESD目标级别进行切实可行的修改不仅是必要的,而且是紧迫的。该文档被组织在不同的部分,以提供尽可能多的技术细节,以支持在摘要中给出的目的。2009年6月,制定委员会批准在本文件的封面上增加ESDA标志。修订历史见附件C。 |
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静电放电(esd)灵敏度试验机型号(mm)本文件已于2016年9月失效 |
JESD22-A115C | 2010年11月 |
JESD22-A115是一个参考文档;这不是JESD47(集成电路压力测试驱动认证)的要求。JESD22-A115中描述的机器型号(MM)不应作为集成电路ESD认证的要求。只有人体模型(human-body model, HBM)和电荷器件模型(charge -device model, CDM)是JESD47中规定的必要的ESD认证测试方法。 指JEP172:停止使用设备ESD认证的机器模型获取更多信息。 委员会(s):jc - 14.1 |