微电子工业全球标准
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介绍了测量双极、IGBT和MOSFET功率半导体关断损耗的典型示波器波形方法和基本测试电路。该方法可作为评估功率半导体关断开关损耗能力的标准,并定义了应在电子工业中参考的标准术语。
委员会(s):JC-25
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