微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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元器件引线、端子、耳片、端子和导线的可焊性试验:删除01/21/04发行号:B |
j - std - 002 | 2003年2月 |
应IPC要求,J-STD-002B已从免费下载区移除。取而代之的是JEDEC的测试方法,JESD22-B102,可焊性,包括无铅,直到它被J-STD-002D取代。对J-STD-002的任何修订将不再在JEDEC网站上免费提供给工业界。但是,该文件可在成员区提供给JEDEC制定委员会成员。如果您不是JEDEC会员,您可能希望尝试IPC网站或以下列出的经销商之一://www.ljosalfur.com/standards-document |