微电子工业全球标准
标准及文件检索
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标题 | 文档# | 日期 |
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Hsul_12 lpddr2和lpddr3 I/O与可选odt |
JESD8-22B | 2014年4月 |
本标准定义了在高速无端逻辑(HSUL_12)逻辑开关范围(名义上为0v至1.2 V)下工作的设备的输入、输出规格和交流测试条件。该标准可应用于独立VDD和VDDQ供电电压的ic。 委员会(s):JC-16 |
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附件M: LPDDR3和LPDDR4 SDRAM模块的串行存在检测(SPD),版本1发行号:25 |
SPD4.1.2.M-1 | 2015年11月 |
委员会文件参考标题:LPDDR3和LPDDR4 SPD文档发布1 本附件描述了所有LPDDR模块的串行存在检测(SPD)值。模块类型之间的差异封装在本附件的子节中。这些存在检测值是SPD标准文档中“特定特征”引用的值。以下SPD字段将按照第2节中给出的顺序进行记录,除了字节128~255在单独的部分中进行记录,每个模块类型家族一个。关于字节2的进一步描述可以在SPD标准的附录A中找到。2254.01项 委员会(s):JC-45 |