微电子工业全球标准
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低温存储测试通常用于确定时间和温度在存储条件下对固态电子设备的热激活故障机制的影响,包括非易失性存储设备(数据保留故障机制)。在测试期间,在没有施加电应力的情况下使用降低的温度(测试条件)。这个测试可能是破坏性的,取决于时间,温度和包装(如果有的话)。
委员会(s):jc - 14.1
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