微电子工业全球标准
显示1 - 1个文档中的1个。
本标准详细介绍了从完整寿命数据(实验中所有样本都失败了)或单右截短寿命数据(实验失败了)或从快速应力测试中收集的单右截短寿命数据估计双参数对数正态分布值的技术;然而,并不是所有类型的故障数据都可以用这些技术进行分析。
委员会(s):jc - 14.2
免费下载。登记或登录必需的。