微电子工业全球标准
标准及文件检索
显示1 - 3个文档。
标题 | 文档# | 日期 |
---|---|---|
实时软误差率的测试方法 |
JESD89-1B | 2021年7月 |
该测试用于确定固态易失性存储器阵列和双稳态逻辑元件(例如触发器)的软错误率(SER),以纠正在地面环境中使用的只需重新读取或重写即可的错误。它模拟设备的运行条件,并用于鉴定、表征或可靠性监测。本试验在环境条件下进行,没有人为引入辐射源。 |
||
稳态温湿偏置寿命试验 |
JESD22-A101D.01 | 2021年1月 |
本标准规定了在施加偏差的情况下进行温度-湿度寿命试验的方法和条件。该试验用于评价非密封封装固态器件在潮湿环境下的可靠性。它利用高温和高湿度的条件来加速水分通过外部保护材料的渗透,或沿着外部保护涂层与导体或其他通过它的特征之间的界面渗透。该修订增强了在设备上执行该测试的能力,该设备不能偏向于实现非常低的功耗。 |
||
QML微电路老化试验条件及关键参数的选择 |
JEP163A | 2023年1月 |
本出版物是帮助集成电路制造商定义其产品老化和寿命测试条件的指南,以满足MIL-PRF-38535的质量和可靠性性能要求。 |