微电子工业全球标准
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本标准涵盖集成电路的i型测试和v型电源过电压闭锁测试。本标准的目的是建立一种确定IC闭锁特性的方法,并定义闭锁检测标准。闭锁特性在确定产品可靠性和最小化由于闭锁导致的无故障(NTF)和电气过度应力(EOS)故障方面极其重要。此测试方法适用于NMOS, CMOS,双极,以及这些技术的所有变体和组合。该标准已被美国国防后勤局(DLA)作为5962-1880项目采用。
委员会(s):JC-14,jc - 14.1
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