微电子工业全球标准
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本附录提供了在分析MOSFET n沟道热载流子引起的退化数据有用的数据分析示例。JESD28(热载流子n通道测试标准)的本附录建议采用热载流子数据分析技术。
委员会(s):jc - 14.2
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