微电子工业全球标准
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本文档描述了用于半导体技术鉴定的后端测试和数据方法。它不给出合格或不合格值,也不推荐特定的测试设备、测试结构或测试算法。只要可能,它引用适用的JEDEC,如JESD47或其他广泛接受的需求文档标准。
委员会(s):jc - 14.2
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