微电子工业全球标准
标准及文件检索
显示1 - 3个文档。
标题 | 文档# | 日期 |
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hbm / mm鉴定的推荐esd目标水平 |
JEP155B | 2018年7月 |
本文档旨在为半导体公司及其客户的质量组织提供信息,以评估并制定安全ESD水平要求。通过本文档,我们将说明为什么对组件级ESD的ESD目标级别进行切实可行的修改不仅是必要的,而且是紧迫的。该文档被组织在不同的部分,以提供尽可能多的技术细节,以支持在摘要中给出的目的。2009年6月,制定委员会批准在本文件的封面上增加ESDA标志。修订历史见附件C。 |
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静电放电敏感器件操作要求 |
JESD625C | 2022年10月 |
本标准适用于静电放电大于100伏人体模型(HBM)和200伏带电设备模型(CDM)易损坏的设备。 |
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静电放电(esd)敏感性试验人体模型(hbm)状态:取代ANSI/ESDA/JEDEC JS-001, 2010年4月。 |
JESD22-A114F | 2008年12月 |
该测试方法建立了一个标准程序,用于测试和分类微电路,根据其暴露于定义的静电人体模型(HBM)放电(ESD)的损坏或退化的易感性。目的是提供可靠的、可重复的HBM ESD测试结果,以便进行准确的分类。 委员会(s):jc - 14.1 |