微电子工业全球标准
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本附录建立了一种测量功率器件栅电荷的方法。栅极充电测试是通过恒定电流驱动器件栅极并测量产生的栅极电压响应来进行的。恒定的栅极电流将栅极电压(时间的函数)扩展为库仑的函数。产生的响应的斜率反映了有源器件电容在开关转变过程中的变化。栅极电荷测量对于表征功率MOS和IGBT器件的大信号开关性能非常有用。该方法由JEDEC JC-25委员会历时四年开发,定义了一种可重复测量广泛发布的Qgd电荷值的方法。
委员会(s):JC-25
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