微电子工业全球标准
显示1 - 1的1个文档。
本测试方法的目的是测量IGBT(绝缘栅双极晶体管)在特定的外加电压、电流和脉冲持续时间条件下的热阻抗。集电极-发射极对电压的温度敏感性VCE(on)被用作结温指示器。这是JEDEC标准No. 24-6的替代方法。
委员会(s):JC-25
免费下载。登记或登录必需的。