微电子工业全球标准
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特征分析是一种利用统计推理技术减少综合物理失效分析次数的方法。本文档的目的是通过推理,使用相同的统计技术,促进签名分析的通用定义,并认识到它是进行故障分析的正式方法。
委员会(s):jc - 14.6
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