微电子工业全球标准
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该方法建立了应用统计可靠性监测'SRM'技术来监测和提高电子元件和组件的可靠性的要求。该标准还描述了在有监视器的情况下可以更换或取消。以前称为EIA-659,取代了JESD29-A(1996年7月)。1999年9月修订后成为JESD659。
委员会(s):JC-14,jc - 14.3
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