微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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电子器件失效机理加速度模型的建立方法 |
JESD91B | 2022年3月 |
本文档中描述的方法适用于与电子设备相关的所有可靠性机制。本标准的目的是为开发电子设备中缺陷相关和磨损机构的加速度模型提供参考。 委员会(s):jc - 14.3 |
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半导体器件的失效机制和模型 |
JEP122H | 2016年9月 |
本出版物提供了失效机制及其相关活化能或加速因子的列表,当唯一可用的数据是基于在加速应力测试条件下进行的测试时,可用于进行系统故障率估计。要使用的方法是故障率总和法。本出版物还对可靠性建模参数的选择提供了指导,即功能形式、表观热活化能值和对应力的敏感性,如电源电压、衬底电流、电流密度、栅极电压、相对湿度、温度循环范围、移动离子浓度等。 委员会(s):jc - 14.2 可供购买:163.00美元 添加到购物车 JEDEC付费会员可以登录免费访问。 |