微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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微电路故障分析用户指南:状态:取消2004年11月 |
JEB16 | 1970年7月 |
本指南定义了单片集成微电子电路失效分析的通用程序。虽然一般程序步骤可适用于所有微电子电路,但不包括薄/厚膜混合器件特有的附加分析步骤。 委员会(s):JC-14 |
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特征分析: |
JEP136 | 1999年7月 |
特征分析是一种利用统计推理技术减少综合物理失效分析次数的方法。本文档的目的是通过推理,使用相同的统计技术,促进签名分析的通用定义,并认识到它是进行故障分析的正式方法。 委员会(s):jc - 14.6 |
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颗粒冲击噪声检测(PIND)测试、操作人员培训和认证指南 |
JEP114A | 2023年5月 |
本出版物是测试设施在努力建立和保持一致的颗粒冲击噪声检测(PIND)测试的指南。 |