微电子工业全球标准
显示1 - 1个文档中的1个。
本标准适用于在自然风冷环境中应用的铅装半导体器件的寿命测试,其中大部分功率耗散是通过从主体到器件的对流和辐射损失获得的。
委员会(s):jc - 22.1
免费下载。登记或登录必需的。