微电子工业全球标准
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该压力测试旨在确定EEPROM集成电路或带有EEPROM模块(如微处理器)的集成电路的能力,以维持重复的数据更改而不会失败(程序/擦除持久性),并在EEPROM的预期寿命内保留数据(数据保留)。本标准规定了基于确认规范进行有效耐久和保持试验的程序要求。耐久性和保留资格规范(循环计数,持续时间,温度和样本量)在JESD47中指定,或者可以像JESD94一样使用基于知识的方法开发。
委员会(s):jc - 14.1
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