微电子工业全球标准
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本标准定义了计算产品早期寿命故障率的方法,使用加速测试,其故障率是恒定的或随着时间的推移而降低。对于有足够现场故障数据的技术,可以使用替代方法来确定早期寿命故障率。本标准的目的是定义执行早期寿命故障率测量和计算的程序。预测可用于将可靠性性能与目标进行比较,提供线路反馈,支持服务成本估算,并设置产品测试和筛选策略,以确保ELFR满足客户的要求。
委员会(s):JC-14,jc - 14.3
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