微电子工业全球标准
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本标准定义了使用加速试验计算产品早期故障率的方法,故障率随时间不变或下降。对于有足够现场失效数据的技术,可以使用替代方法来确定早期寿命故障率。本标准的目的是定义一种测量和计算早期寿命故障率的程序。预测可用于将可靠性性能与目标进行比较,提供线路反馈,支持服务成本估算,并设置产品测试和筛选策略,以确保ELFR满足客户的要求。
委员会(s):JC-14,jc - 14.3
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