微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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小信号晶体管散射参数测量标准:状态:重申1999年4月,2009年3月 |
JESD435 | 1976年4月 |
本标准规定了测量小信号晶体管散射参数的标准。以前称为RS-435和/或EIA-435 委员会(s):JC-25 |
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信号二极管和稳压二极管热阻试验方法(正压、开关法):状态:重申1999年4月,2002年4月 |
JESD531 | 1986年7月 |
本标准描述了测量信号二极管和调节二极管热阻的测试方法。对该测试方法进行修改的需要源于先前存在的用于测试热阻的信号和稳压二极管应用的有限描述。以前发布的ID-13。ANSI/EIA-531-1986(7月)于1996年6月到期。2002年4月再次确认成为JESD531。 委员会(s):jc - 22.4 |