微电子工业全球标准
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本出版物旨在帮助该测试方法的用户避免常见干扰(s)。该指南包含了典型的规格要求、颗粒来源、PIND测试系统、校准、维护、测试干扰、操作员培训、颗粒恢复和故障分析等章节。应用本指南中包含的信息将提高任何PIND测试操作的质量和效果。
委员会(s):JC-13,jc - 13.5
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