微电子工业全球标准
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本出版物的目的是提供一些最常用的系统和测试方法的概述,历史上由制造商执行,以评估和鉴定固态产品的可靠性。适当地引用了现有的和拟议的JEDEC(或EIA)标准和出版物。本文件还旨在提供与评估和合格微电路可靠性相关的一些技术和经济因素的教育背景和概述。
委员会(s):JC-14,jc - 14.3
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本文件的目的是建立指导方针和提供例子,客户可以根据双方同意的客观标准来衡量他们的供应商。这些结果可以用来改善客户和供应商之间的沟通。
委员会(s):JC-14,jc - 14.4