微电子工业全球标准
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本测试方法作为标准化程序提供,通过测量在器件被特征化的固体α源照射时的α粒子软错误率(SER)灵敏度来确定固态易失性存储器阵列和双稳逻辑元件(例如触发器)。
委员会(s):JC-14,jc - 14.1
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