微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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半导体元件早期寿命故障率计算程序:状态:重申2014年1月,2019年9月 |
JESD74A | 2007年2月 |
本标准定义了计算产品早期寿命故障率的方法,使用加速测试,其故障率是恒定的或随着时间的推移而降低。对于有足够现场故障数据的技术,可以使用替代方法来确定早期寿命故障率。本标准的目的是定义执行早期寿命故障率测量和计算的程序。预测可用于将可靠性性能与目标进行比较,提供线路反馈,支持服务成本估算,并设置产品测试和筛选策略,以确保ELFR满足客户的要求。 |
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以配合为单位计算故障率的方法 |
JESD85A | 2021年7月 |
本标准建立了计算fit单位故障率的方法,通过使用不同程度的详细数据,从而可以从几乎任何数据集获得结果。目的是为故障率的计算方法提供参考。 委员会(s):jc - 14.3 |
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半导体器件的失效机制和模型 |
JEP122H | 2016年9月 |
本出版物提供了故障机制及其相关活化能或加速因子的列表,当唯一可用的数据是基于在加速压力测试条件下执行的测试时,可用于估算系统故障率。要使用的方法是故障率和方法。该出版物还为可靠性建模参数的选择提供了指导,即函数形式、表观热活化能值和对电源电压、衬底电流、电流密度、栅极电压、相对湿度、温度循环范围、移动离子浓度等应力的敏感性。 委员会(s):jc - 14.2 可供购买:163.00美元 添加到购物车 JEDEC付费会员可以登录免费访问。 |