微电子工业全球标准
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标题 | 文档# | 日期 |
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半导体元件早期寿命故障率计算程序状态:重申2014年1月,2019年9月 |
JESD74A | 2007年2月 |
本标准定义了使用加速试验计算产品早期故障率的方法,故障率随时间不变或下降。对于有足够现场失效数据的技术,可以使用替代方法来确定早期寿命故障率。本标准的目的是定义一种测量和计算早期寿命故障率的程序。预测可用于将可靠性性能与目标进行比较,提供线路反馈,支持服务成本估算,并设置产品测试和筛选策略,以确保ELFR满足客户的要求。 |
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以配合为单位计算故障率的方法 |
JESD85A | 2021年7月 |
本标准通过使用不同详细程度的数据,建立了计算fit单元故障率的方法,以便几乎可以从任何数据集获得结果。目的是为计算故障率的方法提供参考。 委员会(s):jc - 14.3 |
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半导体器件的失效机制和模型 |
JEP122H | 2016年9月 |
本出版物提供了失效机制及其相关活化能或加速因子的列表,当唯一可用的数据是基于在加速应力测试条件下进行的测试时,可用于进行系统故障率估计。要使用的方法是故障率总和法。本出版物还对可靠性建模参数的选择提供了指导,即功能形式、表观热活化能值和对应力的敏感性,如电源电压、衬底电流、电流密度、栅极电压、相对湿度、温度循环范围、移动离子浓度等。 委员会(s):jc - 14.2 可供购买:163.00美元 添加到购物车 JEDEC付费会员可以登录免费访问。 |